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              高壓快充上車趨勢加快,碳化硅成為絕佳選擇

              2024-03-27 來源:賢集網(wǎng)
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              關(guān)鍵詞: SiC器件 半導(dǎo)體材料 碳化硅

              在電動汽車發(fā)展的初期,400V電壓平臺是主流選擇。然而,隨著消費(fèi)者對續(xù)航里程和充電速度的需求不斷提升,高壓800V技術(shù)正在逐漸從幕后走到臺前,成為推動行業(yè)進(jìn)步的關(guān)鍵力量。據(jù)蓋世汽車研究院統(tǒng)計(jì),2024年1月,高壓800V車型滲透率達(dá)5.8%,包括比亞迪、小鵬、騰勢、極氪、方程豹等品牌都陸續(xù)推出了搭載800V高電壓平臺的車型,隨著技術(shù)的進(jìn)步和成本的降低,未來有望加速快充普及和向主流市場滲透。

              800V電壓平臺帶來的是充電速度的提升,SiC器件應(yīng)用提高的是效率,兩者搭配應(yīng)用效果更佳。然而,SiC功率器件雖然有著耐壓程度高、開關(guān)損耗低、效率高等優(yōu)點(diǎn),但是價(jià)格也高。在成本壓力下,當(dāng)前碳化硅滲透率僅為11%,主要為特斯拉、比亞迪等B級以上的BEV車型采用,A00級仍以Si-Mosfet為主、A0和A級車以Si-IGBT為主。SiC功率器件滲透率雖然目前還處于較低水平,它所代表的技術(shù)趨勢和市場潛力卻是巨大的。



              碳化硅較硅具備性能優(yōu)勢,有效滿足高壓平臺零件需求

              作為第三代半導(dǎo)體材料的代表, SiC 具有大禁帶寬度、高擊穿電場強(qiáng)度、高飽和漂移速度和高熱導(dǎo)率等優(yōu)良特 性。SiC 的禁帶寬度( 2.3-3.3eV)約是 Si 的 3 倍,擊穿電場強(qiáng)度( 0.8 × 106/-3 × 106/) 約是 Si 的 10 倍,熱導(dǎo)率( 490W/(m·K))約是 Si 的 3.2 倍,可以滿足高溫、高功率、高壓、高頻等多種應(yīng)用場景。

              與硅基半導(dǎo)體材料相比,以碳化硅為代表的第三代半導(dǎo)體材料具有高擊穿電場、高飽和電子漂移速度、高熱導(dǎo)率、高抗輻射能力等特點(diǎn),適合于制作高溫、高頻、抗輻射及大功率器件。

              Si 材料中越是高耐壓器件,單位面積的導(dǎo)通電阻也越大(以耐壓值的約 2~2.5 次方的比例增加),因此 600V 以上的電壓中主要采用 IGBT。IGBT 通過電導(dǎo)率調(diào)制,向漂移層內(nèi)注入作為少數(shù)載流子的空穴,因此導(dǎo)通電阻比MOSFET 還要小,但是同時(shí)由于少數(shù)載流子的積聚,在 Turn-off 時(shí)會產(chǎn)生尾電流,從而造成極大的開關(guān)損耗。

              SiC 器件漂移層的阻抗比 Si 器件低,不需要進(jìn)行電導(dǎo)率調(diào)制就能夠以 MOSFET 實(shí)現(xiàn)高耐壓和低阻抗,而且MOSFET 原理上不產(chǎn)生尾電流,所以用 SiC-MOSFET 替代 IGBT 時(shí),能夠明顯地減少開關(guān)損耗,并且實(shí)現(xiàn)散熱部件的小型化。另外, SiC-MOSFET 能夠在 IGBT 不能工作的高頻條件下驅(qū)動,從而也可以實(shí)現(xiàn)無源器件的小型化。與 600V~900V 的 Si-MOSFET 相比, SiC-MOSFET 的優(yōu)勢在于芯片面積小(可實(shí)現(xiàn)小型封裝),而且體二極管的恢復(fù)損耗非常小,主要應(yīng)用于工業(yè)機(jī)器電源、高效率功率調(diào)節(jié)器的逆變器或轉(zhuǎn)換器中。

              以 80kW EV 為例, ST 測算了 SiC MOSFET 與 Si IGBT+二極管方案下的牽引逆變器功率損耗。歸因于 SiC 更優(yōu)的 FOM 參數(shù)性能, SiC MOSFET 在更高的結(jié)溫情況下?lián)p耗減少更多, 合計(jì)導(dǎo)通損耗后相比硅基方案減耗 40%。


              增長動能涌現(xiàn)

              產(chǎn)業(yè)發(fā)展環(huán)境良好


              全球碳化硅產(chǎn)業(yè)高速增長,國際大廠展望積極。英飛凌預(yù)計(jì),2024財(cái)年其碳化硅業(yè)務(wù)收入將增長50%至7.5億歐元;安森美2023年碳化硅業(yè)務(wù)收入超8億美元,預(yù)計(jì)2024年全球碳化硅市場增速為20%-30%,而其將以市場增速的2倍增長;意法半導(dǎo)體2023年碳化硅業(yè)務(wù)收入達(dá)11.4億美元,預(yù)計(jì)其2025年碳化硅業(yè)務(wù)收入將突破20億美元。

              林科闖表示,政府對新材料產(chǎn)業(yè)的大力支持,以及全球市場對高性能半導(dǎo)體材料的需求旺盛,為國內(nèi)碳化硅產(chǎn)業(yè)提供了良好的發(fā)展環(huán)境。

              憑借出色的材料特性,碳化硅正在國內(nèi)電力電子、射頻等下游應(yīng)用領(lǐng)域加速“出圈”,滲透率不斷走高。根據(jù)第三方市場研究公司Yole預(yù)測,全球碳化硅功率器件市場規(guī)模將從2022年的17.94億美元增至2028年的89.06億美元,年均復(fù)合增長率達(dá)31%。



              新能源汽車市場的持續(xù)擴(kuò)大,以及800V高壓快充等新技術(shù)的推廣應(yīng)用,已成為驅(qū)動碳化硅產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的關(guān)鍵動能。“碳化硅功率器件及模塊可實(shí)現(xiàn)更快的充電速度、更長的續(xù)航里程以及更高的能效比。”林科闖說,相較于傳統(tǒng)硅基器件,碳化硅功率器件及模塊具有更高的飽和電子遷移率和擊穿電壓,這意味著碳化硅功率器件及模塊能在更高的電壓和電流下工作,從而實(shí)現(xiàn)更高的效率。

              在800V高壓狀態(tài)下,應(yīng)用碳化硅功率器件電驅(qū)比同等硅基IGBT器件電驅(qū)能效增長3%-5%,碳化硅可以在高頻狀態(tài)下穩(wěn)定工作,實(shí)現(xiàn)更快的開關(guān)頻率(約為IGBT的5倍到10倍),開關(guān)損耗降低超75%;綜合續(xù)航里程提升6%-8%。目前,碳化硅功率器件及模塊在一輛電動汽車中的價(jià)值約為1500美元至2000美元,覆蓋主驅(qū)逆變器、電動壓縮機(jī)、車載充電機(jī)等應(yīng)用。

              碳化硅功率器件及模塊正加速從高端產(chǎn)品向下滲透。“現(xiàn)在售價(jià)為20萬元以上的800V電動汽車,碳化硅功率器件滲透率約為一半,可以全驅(qū)配置,或只配置主驅(qū)。對于售價(jià)在20萬元以下的電動汽車,碳化硅功率器件滲透率快速提升,整車配置只是時(shí)間問題。”林科闖說,產(chǎn)品的加速應(yīng)用將帶來規(guī)模效應(yīng),形成成本降低、售價(jià)降低、應(yīng)用進(jìn)一步擴(kuò)大的良性循環(huán)。

              在光伏、儲能等可再生能源領(lǐng)域,碳化硅也正大展拳腳。業(yè)內(nèi)人士表示,光伏設(shè)備的技術(shù)趨勢是提高功率,減小體積與重量,提高穩(wěn)定性。從單品看,碳化硅功率器件比硅基器件要貴2倍-3倍。但從系統(tǒng)角度看,碳化硅功率器件的應(yīng)用使得散熱器、電容電感等被動器件減小,而碳化硅功率器件低開關(guān)損耗、高頻、高壓工作的特性,也對逆變器實(shí)現(xiàn)光伏發(fā)電系統(tǒng)高效、經(jīng)濟(jì)和穩(wěn)定運(yùn)行提供了更強(qiáng)保障。


              關(guān)注產(chǎn)業(yè)降本節(jié)奏,襯底降本快于器件

              從產(chǎn)業(yè)鏈成本構(gòu)成來看,襯底降本快于器件。碳化硅的成本直接決定了滲透率,影響市場規(guī)模,因此需要密切關(guān)注產(chǎn)業(yè)降本節(jié)奏。襯底占碳化硅成本的比例高達(dá)47%,其次是外延,再其次是后道等環(huán)節(jié),我們判斷襯底降本快于器件。 襯底的降本面對諸多技術(shù)難點(diǎn),包括襯底生長“慢”、加工“難”、缺陷密度去除工藝壁壘“高”。碳化硅器件降本的技術(shù)路徑,從市場上的動態(tài)來看,主要包括擴(kuò)大晶圓尺寸、改進(jìn)碳化硅長晶及加工工藝以提高良率。碳化硅襯底制造工藝復(fù)雜技術(shù)壁壘高,生長速度“慢”。碳化硅襯底的制造對溫度和壓力的控制要求極高,碳化硅襯底的生長過程在 2300℃以上高溫和接近真空的低壓密閉高溫石墨坩堝中進(jìn)行(硅材料只需要 1600 攝氏度),無法即使觀察晶體的生長狀況,隨著尺寸擴(kuò)大,其生長難度呈幾何式增長,溫度和壓力的控制稍有失誤,就有可能導(dǎo)致碳化硅材料的微管密度、錯位密度、電阻率、翹曲度、表面粗糙度等一系列參數(shù)出現(xiàn)差錯,產(chǎn)生異質(zhì)晶型,影響良率;長晶速度非常慢,傳統(tǒng)的硅材料只需 3 天就可以長成一根晶棒,而碳化硅晶棒需要7天,這就導(dǎo)致碳化硅生產(chǎn)效率天然地更低,產(chǎn)出非常受限;此外,晶型要求高、良率低,只有少數(shù)幾種晶體結(jié)構(gòu)的單晶型碳化硅才可作為半導(dǎo)體材料。

              此外,碳化硅襯底加工“難”,晶棒切割、研磨拋光等后端工藝也面臨較大困難。碳化硅性質(zhì)偏硬、脆,斷裂韌性較低,切割、研磨、拋光技術(shù)難度大,工藝水平的提高需要長期的研發(fā)積累,也需要上游設(shè)備商特殊設(shè)備的配套開發(fā)。目前碳化硅切片加工技術(shù)主要包括固結(jié)、游離磨料切片、激光切割、冷分離和電火花切片;研磨拋光時(shí)容易開裂或留下?lián)p傷,這要求在切割襯底的時(shí)候需要預(yù)留更多的研磨拋損耗,這進(jìn)一步降低了晶錠的出片率,同時(shí)也影響了整體的生產(chǎn)良率。全球碳化硅制造加工技術(shù)和產(chǎn)業(yè)尚未成熟,在一定程度上限制了碳化硅器件市場的發(fā)展,要充分實(shí)現(xiàn)碳化硅襯底的優(yōu)異性能,開發(fā)提高碳化硅晶片加工技術(shù)是關(guān)鍵所在。



              碳化硅缺陷密度去除工藝壁壘“高”。碳化硅單晶生長熱場存在溫度梯度,導(dǎo)致晶體生長過程中存在原生內(nèi)應(yīng)力及由此誘生的位錯、層錯等缺陷,其可靠性備受關(guān)注。在密閉高溫腔體內(nèi)進(jìn)行原子有序排列并完成晶體生長、同時(shí)控制微管密度、位錯密度、電阻率、翹曲度、表面粗糙度等參數(shù)指標(biāo)是復(fù)雜的系統(tǒng)工程,涉及一系列高難度工藝調(diào)控,工藝壁壘高。正是因?yàn)檫@些技術(shù)難點(diǎn)造成了成本問題,成為碳化硅器件規(guī)模化應(yīng)用的難題。目前,降本的主要途徑包括擴(kuò)大晶圓尺寸、改進(jìn)碳化硅長晶及加工工藝以提高良率等。

              擴(kuò)大晶圓尺寸是降低成本的有效手段,6 英寸是目前主流,8 英寸是未來方向。襯底尺寸越大,單位襯底可制造的芯片數(shù)量越多,單位芯片成本越低;襯底的尺寸越大,邊緣的浪費(fèi)就越小,有利于進(jìn)一步降低芯片的成本。根據(jù) Wolfspeed,從6 寸轉(zhuǎn)向8 寸晶圓,碳化硅芯片數(shù)量(32mm2)有望從 448 顆增加到 845 顆,在良率為 80%、60%水平下,有效產(chǎn)出顆數(shù)分別為 358、507 顆,若假設(shè)單車使用同樣規(guī)格的芯片 54 顆(48 顆主逆+6 顆OBC),則一片晶圓理論可供 6.6、9.5 臺車,效率得到顯著提升。根據(jù) GTAT 公司的預(yù)估,相對于6寸晶圓平臺,預(yù)計(jì) 8 寸襯底的引入將使整體碳化硅器件成本降低 20-35%。而且,6 寸SiC晶體厚度為350微米,而最初投放市場的 8 寸 SiC 襯底厚度為 500 微米。盡管晶體成本會略微上漲,但是由于更厚的晶體可以切出更多的襯底片,預(yù)計(jì)也有望進(jìn)一步降低器件生產(chǎn)成本。目前導(dǎo)電型碳化硅襯底以 6 英寸為主,8 英寸襯底開始發(fā)展;半絕緣碳化硅襯底以4 英寸為主,目前逐漸向6英寸襯底發(fā)展。隨著尺寸的增大,碳化硅單晶擴(kuò)徑技術(shù)的要求越來越高。擴(kuò)徑技術(shù)需要綜合考慮熱場設(shè)計(jì)、擴(kuò)徑結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、晶體制備工藝設(shè)計(jì)等多方面的技術(shù)控制要素,最終實(shí)現(xiàn)晶體迭代擴(kuò)徑生長,從而獲得直徑達(dá)標(biāo)的高質(zhì)量籽晶,繼而實(shí)現(xiàn)后續(xù)大尺寸籽晶的連續(xù)生長。這也是國產(chǎn)廠商需要著重突破的技術(shù)難點(diǎn)。

              改進(jìn)碳化硅長晶及加工工藝以提高良率等也是降低成本的有效方式。目前國內(nèi)6英寸良率約 40-50%,海外約 60-70%,較低的良率使得有效產(chǎn)能減少從而成本增加。長晶慢、質(zhì)量低、大尺寸難度高、加工工藝不足帶來的損耗等方面都是造成良率降低的因素,目前頭部廠商正積極通過技術(shù)改進(jìn)來提升良率,如 2021 年 8 月 5 日,住友官網(wǎng)提到了他們利用一種所謂的MPZ技術(shù),生長了高質(zhì)量、低成本的 SiC 襯底和 SiC 外延片,消除了表面缺陷和基面位錯(BPD),無缺陷區(qū)(DFA)達(dá)到 99%,相比 PVT 法,SiC 長晶速度提高了5 倍左右,相比普通的LPE法速度提升了 200 倍。但目前國內(nèi)廠商的良率水平與海外廠商還存在一定差距。



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